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瑞士梅特勒METTLER电子天平 XPR205DU/AC的特点

更新时间:2025-04-02点击次数:93

瑞士梅特勒METTLER电子天平 XPR205DU/AC的特点

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性能,轻松合规.出色的结果和智能的质量保证。量程为81/220g,可读性为0.01/0.1mg; 集成方法; 结果记事本; 悬挂型秤盘; 易于清洁; ErgoClip可实现一步加样; LabX和自动分配选项

出色的称量性能

出色的称量单元和高温稳定性确保了较低的最小称量值,使您能够准确称量小而珍贵的样品。

始终提供符合审核要求的结果

StatusLight™、LevelControl和GWP认证提供一目了然的信息,以验证您的结果是否有效,以备随时接受审核。

避免静电造成的隐藏错误

StaticDetect会在静电荷超过预定限值时发出警告。可选的去静电装置能在数秒内自动消除电荷。

瑞士梅特勒 - 托利多(METTLER TOLEDO)的XPR205DU/AC 电子天平是一款专为实验室高精度称量需求设计的核心设备,其技术特性与行业适配性可从以下维度展开分析:

核心技术与性能参数

1. 双量程高精度设计

量程与分辨率:支持81g/0.01mg(微量模式)和220g/0.1mg(标准模式)双量程切换,最小称量值(USP 标准)为20mg。例如,在制药行业中,可精准称量活性药物成分(API),确保配方一致性。

MonoBloc 单模块传感器:采用无焊点整体式设计,抗冲击能力提升 3 倍,过载保护达量程的 5 倍。配合SmartGrid 动态温度补偿,可在 ±15℃/ 小时的温变环境下保持称量≤0.02% FS,适用于温度波动较大的实验室环境。

2. 电磁力补偿与快速稳定

动态响应技术:稳定时间仅1.5 秒,典型重复性≤0.01mg(10g 载荷)。例如,在食品行业中,可快速完成香精香料的称量,提升生产效率。

静电消除系统:集成StaticDetect技术,实时监测静电荷,当干扰超过阈值时自动报警,并通过内置离子发生器在 3 秒内消除电荷。例如,在纳米材料研究中,可有效避免静电对石墨烯等二维材料称量的影响。


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