瑞士梅特勒METTLER 电子天平XPR226CDR/AC的特点

瑞士梅特勒METTLER 电子天平XPR226CDR/AC的特点

每次均可获得可靠的结果.XPR分析天平，最大秤量121/220 g，可读性0.005/0.01 mg，7''电容式彩色触摸屏，用户管理，静电检测，自动内部校正且配有LabX

确保一次性称量准确

集成的StatusLight™、LevelControl和GWP Approved协同作用，确保满足正确称量的所有相关条件。

StaticDetect静电检测

由于具备StaticDetect静电检测功能，XPR微量分析天平和分析天平可检测样品和容器的静电荷。

随时可进行审核

将XPR分析天平连接至LabX软件，为法规遵从和数据完整性提供全面支持。

核心技术参数与性能

1. 双量程超微量精度

量程与可读性：支持220g/0.01mg（标准量程）和121g/0.005mg（超微量模式）双量程切换，最小称量值（USP 标准）低至8mg，比传统天平节省 30% 样品用量。

传感器技术：采用MonoBloc 单模块传感器（无焊点整体式设计），抗冲击能力提升 3 倍，过载保护达量程的 5 倍，配合SmartGrid 动态温度补偿，可在 ±15℃/ 小时的温变环境下保持称量≤0.02% FS。

2. 自动化加样系统

粉末 / 液体双模式：标配Q3 自动加样模块，支持自由流动粉末（如 API 原料）和低粘度液体（如电解液）的自动分配，最小加样量低至0.4mg（1% 允差），≤0.5%。

智能路径规划：内置3D 动态算法，根据样品特性（如颗粒度、流动性）自动优化加样轨迹，避免结块或飞溅。例如，在锂电池极片涂布测试中，可实现 0.1mg 级浆料分配。

3. 静电消除与抗干扰设计

StaticDetect + 离子发生器：集成方波信号检测技术，实时监测静电荷，当干扰超过阈值时自动报警，并通过内置离子发生器（物料号 30460823）在 3 秒内消除电荷，确保微量称量的准确性。

双重屏蔽系统：采用内层铝箔 + 外层镀锡铜编织网（覆盖率≥90%），配合金属外壳屏蔽，整体屏蔽效能达80dB 以上，可在电机驱动、焊接设备等强电磁环境下稳定工作。