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发布时间:2025/5/29
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METTLERTOLEDO 瑞士梅特勒电子天平 XPR205/AC
配有LabX
一次即准的结果
集成的StatusLight™、LevelControl和GWP Approved协同作用,确保各项条件处于更佳状态,获得正确的称量结果。
StaticDetect 静电检测
由于具备StaticDetect专业功能,XPR微量天平和分析天平可检测样品和容器的静电荷。
始终可符合审计
将XPR分析天平连接至LabX软件,为合规性和数据完整性提供全面支持。