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产品中心仪器仪表Optris德国欧普仕Xi1M 7°x5°欧普仕Optris短波红外热像仪工业高精度测温
产品型号：Xi1M 7°x5°
更新时间：2026-02-27
厂商性质：经销商
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欧普仕Optris短波红外热像仪工业高精度测温
采用 0.85–1.1μm 短波红外与 396×300 像素探测器，测温范围 525℃–1800℃，适配金属、陶瓷、半导体等低发射率材料。7°×5° 窄视场搭配电动对焦，支持热点自动追踪与高速线扫，以太网 PoE 供电，接口丰富易集成。机身坚固、精度可靠，专为冶金、热轧、窑炉、光伏等高温工业在线测温与热成像监控设计，稳定适配连续生产场景。
欧普仕Optris短波红外热像仪工业高精度测温
是一款德国紧凑型短波红外高温热像仪，隶属于Xi1M系列窄视场型号，搭载f=50mm长焦镜头，固定视场角7°×5°，专为金属、陶瓷、半导体等低发射率材料的远距离、高精度非接触测温与热成像监控设计，凭借测温性能与工业适配性，成为冶金、光伏、精密制造等高温行业的核心监测设备。
核心性能方面，该设备采用0.85–1.1μm短波红外工作波段，匹配多数高温金属材料的高发射率特性，有效解决常规长波热像仪测量低发射率目标偏差大的痛点，测温更精准可靠。搭载396×300像素CMOS探测器，像素间距15μm，配合电动对焦功能，可远程精准锁定远距离小目标，清晰捕捉热分布细节，热灵敏度在<900°C时低于2K，<1400°C时低于4K，成像清晰且温度辨识度高。
测温参数表现优异，20Hz全分辨率模式下测温范围覆盖525°C–1800°C，500Hz高速线扫模式下575°C起测，无需切换子范围即可适配不同高温工况；温度精度在目标温度<1400°C时达±1%读数，<1600°C时为±2%读数，距离系数高达806:1，适合远距离小目标测量，最小可测 spot 尺寸仅1.2mm，满足精密高温监测需求。
硬件与功能设计贴合工业场景，机身采用不锈钢材质，直径36mm、长度112-127mm，紧凑小巧且坚固耐用，防护等级达IP67，可耐受25G/50G冲击与高强度振动，适配多尘、高温、高湿等恶劣工业环境，存储温度范围为-40°C至70°C，安装方式灵活，可固定挂载或便携使用。接口丰富，涵盖以太网（支持PoE供电）、USB 2.0、RS485，兼容EtherNet/IP、Profinet等主流工业协议，支持1路模拟输出/输入，可与工控系统无缝集成，无需PC即可自主运行，实现热点自动追踪、超限报警等功能。
应用场景广泛，核心适配冶金行业的钢水/铁水温度监控、连铸坯测温、热轧板材检测，可实时监控工件温度分布，保障工艺稳定；在半导体、光伏领域，用于硅锭、晶圆高温工艺测温，精准捕捉晶体生长界面温度变化；同时适配陶瓷、玻璃高温窑炉监测，以及碳材料加工等场景。配套Optris PIX Connect软件，可实现数据实时采集、热图像分析、温度曲线记录与报告生成，支持SDK开发包，方便二次开发定制。
该产品还拥有衍生版本Xi1M 7°×5° CF，内置连续自动校准快门，可实时修正测温数据，保障24/7连续工业运行的稳定性。整体兼具高精度、高帧率、强环境适应性与高性价比，无需额外硬件即可实现自主测温，PoE供电简化布线，大幅降低安装与运维成本，为企业高温工艺监控、质量提升与安全生产提供可靠支撑。
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