Optris短波红外热像仪金属冶金在线工业测温
采用 0.85–1.1μm 短波波段，搭配 28°×21° 宽视场，适配近距离中大型目标测温。测温范围 450–1800℃，396×300 像素成像，支持电动对焦与自动寻热，可精准测量金属、陶瓷、半导体等低发射率材料。机身坚固、IP67 防护，支持以太网 PoE 供电，便于工业在线集成与自动化监控，是高温工况可靠测温方案。

产品型号：Xi1M 28°x21°

更新时间：2026-02-27

厂商性质：经销商

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产品介绍

Optris短波红外热像仪金属冶金在线工业测温

采用 0.85–1.1μm 短波波段，搭配 28°×21° 宽视场，适配近距离中大型目标测温。测温范围 450–1800℃，396×300 像素成像，支持电动对焦与自动寻热，可精准测量金属、陶瓷、半导体等低发射率材料。机身坚固、IP67 防护，支持以太网 PoE 供电，便于工业在线集成与自动化监控，是高温工况可靠测温方案。

Optris短波红外热像仪金属冶金在线工业测温

德国欧普仕 Optris Xi1M 28°×21° 是紧凑型短波红外热像仪，专为金属、陶瓷、半导体等低发射率材料的高温非接触测温与热成像监测设计，凭借 0.85–1.1μm 短波红外波段优势，大幅降低高温反射干扰，是冶金、锻造、热处理、半导体烧结等严苛工况的理想测温方案。

产品搭载 f=12mm 专用镜头，形成 28°×21° 宽视场角，距离系数达 191:1，适配近距离中大型目标测温，无需频繁调整机位即可覆盖完整监测区域。核心采用 396×300 像素 CMOS 探测器，15μm 像素间距，搭配电动对焦功能，可快速精准锁定目标，解决近距离大目标聚焦难题，成像清晰稳定。测温范围覆盖 450–1800℃（20Hz 全分辨率模式），无需分段切换；500Hz 高速线扫模式下 550℃起测，满足快速移动目标的温度轮廓采集需求Optris。精度表现优异，目标温度＜1400℃时达 ±1% 读数，＜1600℃时为 ±2% 读数；热灵敏度＜2K（＜900℃）、＜4K（＜1400℃），可捕捉细微温度差异，保障高温监测可靠性。

性能上，全分辨率帧率 20Hz，线扫模式500Hz，能实时捕捉金属轧制、锻造、连续热处理等动态工况的温度变化。支持自主运行，内置自动寻热功能，无需电脑即可独立完成温度分析与热点检测，直接输出模拟 / 数字信号及报警指令，适配工业自动化系统。接口配置丰富，标配以太网 PoE 供电、USB 2.0，可选 EtherNet/IP、Profinet、Modbus TCP 等工业总线，3 路模拟量输出、3 路报警输出与 3 路输入，支持多设备堆叠扩展，电气隔离设计保障工业场景安全稳定。

机身采用不锈钢材质，直径 36mm、长度 112–127mm，紧凑坚固，IP67 防护等级，具备出色的抗震、抗干扰能力，可在高温、多尘、振动的工业环境中长期稳定工作。功耗低至 2.5W，支持 PoE 或 8–30VDC 供电，部署灵活，适配产线集成、固定监测与移动巡检等多种场景。配套 PIX Connect 专业热成像软件，支持实时图像显示、温度分析、数据记录、报警设置与远程监控，助力用户高效管理高温生产流程，提升产品质量与生产安全。

上一个：Xi1M 14°x10°Optris红外热成像仪金属冶金高温检测热像仪